تصمیم ژاپن برای پخش هولوگرافیک جام جهانی ۲۰۲۲

launch
باور کردن این تصمیم ژاپنی ها کمی مشکل است. آنها تصمیم دارند که جام جهانی فوتبال سال ۲۰۲۲ را به صورت هولوگرافیک در بقیه استادیوم های دیگر کشورها نشان دهند. آنها برای عملی کردن این کار ۶ میلیارد دلار بودجه در نظر گرفته اند و قرار است که هر بازی در استادیوم با ۲۰۰ دوربین فیلم برداری HD ضبط شود. سپس این تصاویر به صورت همزمان به ۴۰۰ ورزشگاه در دیگر نقاط جهان فرستاده می شود. حالا شما می توانید در یک استادیوم در کشور خودتان بنشینید و فینال جام جهانی را در ورزشگاه مقابل خودتان ببینید. چرا که فناوری هولوگرافیک مانند چیزی است که در فیلم های جنگ ستارگان دیده اید. شما بازیکنان را در وسط زمین فوتبال مقابل تان می بینید.
در این پروژه حتی میکروفن هایی هم در سراسر زمین فوتبال نصب خواهد شد تا صداهای بازیکنان، شوت زدن و … را به بقیه استادیوم ها منتقل کند. آقای کیو مدیر اجرایی این پروژه می گوید که شما ممکن است فناوری لازم برای اجرای این پروژه را مانند رویا ببینید. اما خواهید دید که طی ۱۲ سال آینده چقدر تکنولوژی تغییر خواهد کرد و ما تصور می کنیم که تا سال ۲۰۱۶ فناوری های لازم برای این کار را در اختیار داشته باشیم.
به گفته ژاپنی ها اجرایی شدن این طرح سبب می شود که تماشاگران مسابقات جام جهانی فوتبال در استادیوم ها ده ها برابر شود و این بخشی از برنامه آنها برای به دست آوردن میزبانی این مسابقات برای سال ۲۰۲۲ است. البته این طرح آنقدر جالب به نظر می رسد که باعث می شود هر کسی از میزبانی ژاپن در صورت موفقیت این طرح پشتیبانی کند چرا که در این صورت می توانیم مسابقات بزرگ فوتبال دنیا را در استادیوم های شهر خودمان ببینیم.

هولوگرام: تصویر سه بعدی که از ترکبب شعاع نور لیزر یا سایر منابع نوری منسجم ایجاد می شود
source :http://goo.gl/ZjouF

Optical Nanoscopy

Optical Nanoscopy is devoted to the rapid dissemination of original works on principles, development, and applications of optical imaging with spatial resolution substantially better than half the wavelength of light. The journal will have an emphasis on far- field optical approaches with resolution at the nanometer scale, as well as on advancements of near-field optical microscopy.

Optical Nanoscopy will be interdisciplinary, encompassing all aspects of optical nanoscopy, including theory and novel concepts of subdiffraction resolution imaging, experimental demonstration of novel concepts, major developmental progress, the improvement of the chemistry of fluorophores and labels including fluorescent and switchable molecules, fluorescent proteins or Q-dots, and applications to any field in science, in particular, biology, medicine, and the material sciences. Example topics include the principles, developments, and applications of nanoscopy concepts known as STED, PALM, STORM, GSDIM, SSIM, RESOLFT, PAINT, SOFI, etc. as well as SNOM/NSOM and other emerging concepts.

کاهش خطای اندازه‌گیری در سامانه‌های نانومترولوژی

باهمت محققان ایرانی و کره‌ای، خطاهای موجود در سامانه‌های نانومترولوژی و تداخل‌سنج‌های لیزری کاهش یافت و امکان دستیابی به دقت‌های پیکومتری در اندازه‌گیری جابه‌جایی در سامانه‌های نانومترولوژی فراهم شد.

نانومترولوژی، اندازه‌گیری ابعاد و جابه‌جایی مواد در مقیاس نانو است. اثرات غیرخطی از مهم‌ترین خطاهای موجود در سامانه‌های نانومترولوژی و تداخل‌سنج‌های لیزری است که می‌تواند با استفاده از ماتریس‌های جونز مدل‌سازی شود و با یک سامانه‌ی کامل اپتوالکترونیکی با لیزر سه مودی پایدار شده، مقدار خطای اندازه‌گیری به‌طور قابل ملاحظه‌ای کاهش یابد.
«علاوه بر دقت بسیار بالا، سادگی بخش اپتیک و استفاده از مدارهای الکترونیک یکسان در بازوهای تداخل‌سنج لیزری از مزایای دیگر این طرح به‌شمار می‌آید».
«در این پژوهش از یک لیزر پایدار شده‌ی سه مودی استفاده شده‌است که در اولین گام منجر به دو برابر شدن قابلیت تفکیک‌پذیری در سنجش و اندازه‌گیری جابه‌جایی نسبت به سامانه‌های متداول شده‌‌است. تداخل‌سنج لیزری موردنظر با استفاده از ماتریس‌های جونز، مدل‌سازی‌سازی شده و خطاهای مختلف آن از جمله انحراف قطبنده، نابرابری ضرایب عبور، بازتاب و انحراف در زاویه‌ی قرارگیری شکافنده- قطبنده نسبت به راستای لیزر، بیضوی بودن قطبش لیزر و عمود نبودن قطبش مودهای جانبی بر مود مرکزی در نمایه‌ی لیزر، با ماتریس‌های مختلف، مدل‌سازی و خطای غیرخطی متناوب دو، چهار و هشت دوره‌ای نهایی بیان شده‌است. سپس یک سامانه‌ی جدید به‌منظور کاهش خطاهای مرتبه‌ی مختلف پیشنهاد گردیده و نشان داده شده‌است که با استفاده از این سامانه، امکان کاهش خطای کل که ناشی از کمیات ذکر شده باشد، به کسری از نانومتر وجود دارد».

با استفاده از سامانه‌ی‌ طراحی شده در این کار پژوهشی، امکان دستیابی به دقت‌های پیکومتری در سنجش و اندازه‌گیری جابه‌جایی در سامانه‌های نانومترولوژی فراهم گردیده‌است.

این سامانه در صنایع نانومترولوژی، تهیه ماسک و فرایندهای فوتولیتوگرافی، ساخت ادوات نیم‌رسانا و در هر جایی که نیاز به اندازه‌گیری فاصله و یا جابه‌جایی با دقت‌های بسیار بالا باشد، کاربرد دارد.
دکتر سعید علیایی، استادیار دانشگاه شهید رجایی